Robuta

https://www.matek.com/services-detail/228/ CP 離子研磨 離子研磨(Ion Milling),亦稱為 Cross-Section Polishing(CP),是一種利用高能離子束轟擊樣品表面,以移除材料並形成平滑截面的樣品製備技術,在半導體材料分析與失效分析過程中,為了觀察晶片或封裝內部的微結構。 cp